| 产品简介

 

生长纹测试仪（Crystal Growth Striation Measurement）是一种基于纹影法，将折射率的细微变化变成大的明暗差来观测晶体、光学元件内部质量的仪器。通常在难以内部可视化的透明固体、气体、液体中，光的折射率因介质密度梯度而异。透明气体、液体和固体中的不均匀状态作为密度梯度，通过的光可以弯曲。纹影法是利用折射率（光的前进方向）的变化可视化的光学观测方法。生长纹测试仪可用于晶体生长纹路观察与分析，研究晶体生长的关键参数；控制晶体生长质量，评估晶体纯度以及缺陷情况，优化晶体生长工艺，提高晶体质量和性能。

 

 

| 应用领域

 

· 光学材料缺陷分析

· 晶体材料生长纹观察

 

· 我们产品全制程自主生产，可以根据客户需要定制，标准产品参照下面列表：

 

 

| 典型参考指标

 

 

| 典型封装尺寸示意图（mm）